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BS ISO 16065-2-2007 纸浆.用自动光学分析法测量纤维长度.非偏振光法

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 18:42:39  浏览:9632   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Pulps-Determinationoffibrelengthbyautomatedopticalanalysis-Unpolarizedlightmethod
【原文标准名称】:纸浆.用自动光学分析法测量纤维长度.非偏振光法
【标准号】:BSISO16065-2-2007
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2007-02-28
【实施或试行日期】:2007-02-28
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分析;自动;纸板;定义;名称与符号;测定;纤维长度;光;光学吸收;光学测量;纸;纸制品;纸浆;试样制备;试验设备;试验报告;测试;磨损
【英文主题词】:Analysis;Automatic;Board(paper);Definitions;Designations;Determination;Fibrefineness;Fibres;Lengthoffibres;Light;Opticalabsorption;Opticalmeasurement;Paper;Paperproducts;Pulp;Specimenpreparation;Testequipment;Testreports;Testing;Wear
【摘要】:ThispartofISO16065specifiesamethodfordeterminingfibrelengthbyautomatedopticalanalysis,usingunpolarizedlight.Themethodisapplicabletoallkindsofpulp.However,fibrousparticlesshorterthan0,2mmareregardedasfibresforthepurposesofthispartofISO16065andthereforearenotincludedintheresuits.
【中国标准分类号】:Y31
【国际标准分类号】:85_040
【页数】:16P.;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:汽车玻璃窗膜技术规范
英文名称:Technical Crierions for Automotive Window Film
中标分类: 车辆 >> 汽车底盘与车身 >> 车身(驾驶室)及附件
ICS分类:
发布日期:2007-08-22
实施日期:2007-08-22
首发日期:
作废日期:
出版日期:2007-08-22
页数:22页
适用范围

本规范规定了汽车玻璃窗膜的主要技术要求和试验方法、汽车玻璃窗贴膜工艺技术条件、质量要求、标志、包装和贮存。
本规范适用于汽车玻璃窗膜,也适用于汽车玻璃窗贴膜工艺和质量要求。

前言

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所属分类: 车辆 汽车底盘与车身 车身(驾驶室)及附件
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part38:Softerrortestmethodforsemiconductordeviceswithmemory
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法
【标准号】:IEC60749-38-2008
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2008-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速的;α辐射线;气候试验;元件;损伤;缺陷;定义;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;集成电路;干扰;测量;机械试验;电力电子学;半导体器件;半导体;测试;试验条件
【英文主题词】:Accelerated;Alpharadiation;Climatictests;Components;Damage;Defects;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Interferences;Measurement;Mechanicaltesting;Powerelectronics;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Testingconditions
【摘要】:ThispartofIEC60749establishesaprocedureformeasuringthesofterrorsusceptibilityofsemiconductordeviceswithmemorywhensubjectedtoenergeticparticlessuchasalpharadiation.Twotestsaredescribed;anacceleratedtestusinganalpharadiationsourceandan(unaccelerated)real-timesystemtestwhereanyerrorsaregeneratedunderconditionsofnaturallyoccurringradiationwhichcanbealphaorotherradiationsuchasneutron.Tocompletelycharacterizethesofterrorcapabilityofanintegratedcircuitwithmemory,thedevicemustbetestedforbroadhighenergyspectrumandthermalneutronsusingadditionaltestmethods.Thistestmethodmaybeappliedtoanytypeofintegratedcircuitwithmemorydevice.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语



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